瑞薩在eNVM技術中選擇MRAM
2022-12-01 09:52:16
在eNVM各種技術中,日本MCU大廠瑞薩選擇了MRAM。MRAM全稱Magnetic
ram(磁性存儲器),是一種基于隧穿磁阻效應的技術,擁有非易失,讀寫次數(shù)無限,寫入速度快、功耗低,和邏輯芯片整合度高等技術特點。
瑞薩表示,MRAM比閃存需要更少的寫入操作能量,因此特別適合數(shù)據(jù)更新頻繁的應用,但隨著對 MCU 數(shù)據(jù)處理能力的需求激增,改善性能和功耗之間權衡的需求也在增加,進一步降低功耗仍然是一個緊迫的問題。為了滿足這一需求,瑞薩為 MRAM 開發(fā)了兩種技術,分別是利用斜率脈沖的自終止寫入方案和同步寫入位數(shù)優(yōu)化技術。最后,瑞薩在采用 16 納米 FinFET 邏輯工藝的 20 Mbit 嵌入式 MRAM 存儲單元陣列測試芯片上進行的測量證實,上述兩種技術的組合可將寫入能量降低 72%,并將寫入脈沖應用時間縮短 50%。
今年6月,瑞薩再次宣布已開發(fā)出用于
STT-MRAM測試的電路技術使用 22 納米工藝制造的具有快速讀寫操作的芯片。瑞薩表示,隨著物聯(lián)網(wǎng)和人工智能技術的不斷進步,需要采用更精細的工藝節(jié)點來制造MCU,對于亞 22 納米工藝,在生產(chǎn)線后端中制造的 MRAM 與在生產(chǎn)線前端中制造的閃存相比具有優(yōu)勢,因為它與現(xiàn)有的 CMOS 邏輯工藝技術兼容并且需要更少的額外掩膜版。
但瑞薩也指出,
MRAM 的讀取余量過小,會降低讀取速度,進而影響MCU的性能,因此需要進一步提高速度以縮短端點設備所需的無線 (OTA) 更新的系統(tǒng)停機時間,為此瑞薩開發(fā)了采用高精度靈敏放大電路的快速讀取技術和同步寫入位數(shù)優(yōu)化和縮短模式轉換時間的快速寫入技術,經(jīng)驗證,在測試芯片上實現(xiàn) 5.9 ns 隨機讀取訪問和 5.8 MB/s 寫入吞吐量。瑞薩認為,這些新技術有可能顯著提高內(nèi)存訪問速度超過 100 MHz,從而實現(xiàn)具有更高性能的集成嵌入式 MRAM 的MCU。
本文關鍵詞:MRAM,ram,STT-MARM
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